כללי
מספר פטנט:
172941
שם האמצאה:
שיטות לבדיקת פרוסות שבבים ורשתות באמצעות תוכן מכוון רשם
שם באנגלית:
METHODS FOR INSPECTION OF WAFERS AND RETICLES USING DESIGNER INTENT DATA
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2005/008747 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 60/485338 ארה"ב (US)
דין קדימה 10/883372 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2004/021459 ארה"ב (US)
בקשת PCT 172941 ישראל (IL)
פרסום לאומי 172941 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
KLA-TENCOR TECHNOLOGIES CORPORATION
כתובת:
One Technology Drive Milpitas California 95035 , US
מדינה:
ארה"ב
  מסירת הודעות
שם:
פרל כהן צדק לצר ברץ
כתובת:
מרכז גב-ים 1, רח' שנקר 5, הרצליה 4673339
מדינה:
ישראל
טלפון:
099728000
פקס:
099728001
דוא"ל:
ipomail@pczlaw.com
  סוכן
שם:
פרל כהן צדק לצר ברץ
כתובת:
מרכז גב-ים 1, רח' שנקר 5, הרצליה 4673339
מדינה:
ישראל
טלפון:
099728000
פקס:
099728001
דוא"ל:
ipomail@pczlaw.com
  מסמכים