כללי
מספר פטנט:
232892
שם האמצאה:
שיטות ומערכות לבדיקת פרוסות שבבים ורשתות באמצעות תוכן מכוון רשם
שם באנגלית:
METHODS AND SYSTEMS FOR INSPECTION OF WAFERS AND RETICLES USING DESIGNER INTENT DATA
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2005/008747 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 60/485338 ארה"ב (US)
דין קדימה 10/883372 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2004/021459 ארה"ב (US)
בקשת PCT 232892 ישראל (IL)
פרסום לאומי 232892 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G01N: פיזיקה > מדידה; בדיקה