מכשיר לבדיקה אופטית של פרוסות מוליך למחצה במהלך ליטוש - פטנט 113829 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 113829
שם האמצאה:: מכשיר לבדיקה אופטית של פרוסות מוליך למחצה במהלך ליטוש
שם באנגלית:: APPARATUS FOR OPTICAL INSPECTION OF WAFERS DURING POLISHING

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
23/05/1995	בקשה לאומית	113829	ישראל (IL)
06/12/2000	פרסום לאומי	113829	ישראל (IL)

מגיש

שם:: NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.
כתובת:: P.O.B. 266, WEIZMANN SCIENTIFIC PARK, REHOVOT 76100 , IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: נובה מכשירי מדידה בע" מ
כתובת:: וייצמן פארק למדע, רחובות 76100
מדינה:: ישראל

סוכן

שם:: איתן, פרל, לצר וכהן צדק
כתובת:: רחוב שנקר 7, הרצליה 46733
מדינה:: ישראל
טלפון:: 09-9726000
פקס:: 03-9709001
דוא"ל:: ilpto@pczlaw.com

סוכן

שם:: נובה מכשירי מדידה בע" מ
כתובת:: וייצמן פארק למדע, רחובות 76100
מדינה:: ישראל

מסמכים

פטנטים דומים