שיטות ומערכות לגילוי פגמים חוזרים על שבבי מוליך למחצה באמצעות נתוני עיצוב - פטנט 243473 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 243473
שם האמצאה:: שיטות ומערכות לגילוי פגמים חוזרים על שבבי מוליך למחצה באמצעות נתוני עיצוב
שם באנגלית:: METHODS AND SYSTEMS FOR DETECTING REPEATING DEFECTS ON SEMICONDUCTOR WAFERS USING DESIGN DATA

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2015/006230	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
08/07/2013	דין קדימה	61/843,862	ארה"ב (US)
01/07/2014	דין קדימה	14/321,565	ארה"ב (US)
07/07/2014	בקשה בינלאומית	PCT/US/2014/045601	ארה"ב (US)
06/01/2016	בקשת PCT	243473	ישראל (IL)
29/02/2016	פרסום לאומי	243473	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

H01L: חשמל > אלמנטים חשמליים בסיסיים

מגיש

שם:: KLA-TENCOR CORPORATION

פטנטים דומים