כללי
מספר פטנט:
189706
שם האמצאה:
מערכת בחינה למצעים ושיטה להזזה מצעים
שם באנגלית:
WAFER INSPECTION SYSTEM AND A METHOD FOR TRANSLATING WAFERS [PD]
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2007/023501 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 60/711427 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/IL/2006/000987 ישראל (IL)
בקשת PCT 189706 ישראל (IL)
פרסום לאומי 189706 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
CAMTEK LTD.
  מגיש/ממציא
שם:
NISANY ITZIK
  מגיש/ממציא
שם:
GILEAD AMIR
  מגיש/ממציא
שם:
VAINER MICHAEL