קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
התקן לשימוש בחשיפת-צילום של לוחיות מוליכות למחצה
פטנט 66762
כללי
מספר פטנט:
66762
שם האמצאה:
התקן לשימוש בחשיפת-צילום של לוחיות מוליכות למחצה
שם באנגלית:
APPARATUS FOR USE IN PHOTO-EXPOSINGSEMICONDUCTOR WAFERS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
14/03/1980
בקשה לאומית
66762
ישראל (IL)
31/03/1983
פרסום לאומי
66762
ישראל (IL)
מגיש
שם:
ELECTROMASK, INC.
כתובת:
WOODLAND HILLS CALIF., , US
מדינה:
ארה"ב
מסירת הודעות
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
סוכן
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
תביעות
פטנטים דומים
התקן ותהליך לחשיפת-צילום של לוחיות מוליכות למחצה
אפיפיות וייצורן
התקן ושיטה לניקוי וייפרים של מוליכים למחצה
התקן לטפלול במרקועים מוליכים למחצה
מכשיר להעברת מרקועי מוליכים למחצה