קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
תהליך שחיקת פורוגן לאחר ניקוי כימי-מכני ( CMP )
פטנט 169512
כללי
מספר פטנט:
169512
שם האמצאה:
תהליך שחיקת פורוגן לאחר ניקוי כימי-מכני ( CMP )
שם באנגלית:
POST CMP POROGEN BURN OUT PROCESS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2004/064157
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
07/01/2003
דין קדימה
10/338105
ארה"ב (US)
09/10/2003
בקשה בינלאומית
PCT/US/2003/031900
ארה"ב (US)
03/07/2005
בקשת PCT
169512
ישראל (IL)
21/02/2006
פרסום לאומי
169512
ישראל (IL)
מגיש
שם:
IBM CORPORATION
פטנטים דומים
מעקב אחר תהליך ליטוש מכנו כימי של מתכות
מבנה בדיקה לבקרת תהליך ליטוש מכנו–כימי של מתכות
מבנה בדיקה למעכב בתהליך ליטוש מכנו כימי מתכות
שיטה להשגחת תהליך PMC של שכבות מתכת
שיטת אנליזה של קו שפכים ומערכת לבקרת תהליך CMP