ממין\בוחן אוטומטי של פרוסת מוליך למחצה בעל בידוק אופטי מורחב - פטנט 127973 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 127973
שם האמצאה:: ממין\בוחן אוטומטי של פרוסת מוליך למחצה בעל בידוק אופטי מורחב
שם באנגלית:: AUTOMATIC SEMICONDUCTOR WAFER SORTER /PROBER WITH EXTENDED OPTICAL INSPECTION

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
09/07/1996	דין קדימה	60/022701	ארה"ב (US)
07/07/1997	בקשה לאומית	127973	ישראל (IL)
22/06/2000	פרסום לאומי	127973	ישראל (IL)

מגיש

שם:: SCANIS INC.

פטנטים דומים