מכשיר לבדיקת פרוסה - פטנט 154264 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 154264
שם האמצאה:: מכשיר לבדיקת פרוסה
שם באנגלית:: WAFER PROBER

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2002/101816	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
06/06/2001	בקשה בינלאומית	PCT/JP/2001/004775	יפן (JP)
03/02/2003	בקשת PCT	154264	ישראל (IL)
17/09/2003	פרסום לאומי	154264	ישראל (IL)

מגיש

שם:: IBIDEN CO., LTD.

פטנטים דומים