כללי
מספר פטנט:
138500
שם האמצאה:
חיישן לשבב
שם באנגלית:
WAFER PROBER
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2001/006559 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 11/201789 יפן (JP)
בקשה בינלאומית PCT/JP/1999/005693 יפן (JP)
בקשת PCT 138500 ישראל (IL)
פרסום לאומי 138500 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
IBIDEN CO., LTD.