כללי
מספר פטנט:
142753
שם האמצאה:
מערכת קונוסקופית לבדיקת וופר
שם באנגלית:
CONOSCOPIC WAFER-INSPECTION SYSTEM
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
בקשה לאומית 142753 ישראל (IL)
פרסום לאומי 142753 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
CAMTEK LTD.