התקן ותהליך לחשיפת-צילום של לוחיות מוליכות למחצה - פטנט 59629 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 59629
שם האמצאה:: התקן ותהליך לחשיפת-צילום של לוחיות מוליכות למחצה
שם באנגלית:: APPARATUS AND PROCESS FOR PHOTO EXPOSING SEMICONDUCTOR WAFERS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
14/03/1980	בקשה לאומית	59629	ישראל (IL)
31/03/1983	פרסום לאומי	59629	ישראל (IL)

מגיש

שם:: ELECTROMASK, INC.
כתובת:: WOODLAND HILLS CALIF., , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים