שיטה לשיוור מדוייק להשגת חפיפה של פרוסות חצי מוליכות - פטנט 111474 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 111474
שם האמצאה:: שיטה לשיוור מדוייק להשגת חפיפה של פרוסות חצי מוליכות
שם באנגלית:: METHOD FOR REGISTERING A SEMICONDUCTOR WAFERS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
15/11/1993	דין קדימה	152780	ארה"ב (US)
31/10/1994	בקשה לאומית	111474	ישראל (IL)
29/12/1994	פרסום לאומי	111474	ישראל (IL)

מגיש

שם:: HUGHES AIRCRAFT COMPANY

פטנטים דומים