שיטה ומכשיר למדידת מתח ברכיבים מוליכים למחצה - פטנט 162102 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 162102
שם האמצאה:: שיטה ומכשיר למדידת מתח ברכיבים מוליכים למחצה
שם באנגלית:: METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING STRESS IN SEMICONDUCTOR WAFERS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2003/046474	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
26/11/2001	דין קדימה	09/991709	ארה"ב (US)
26/11/2002	בקשה בינלאומית	PCT/IL/2002/000954	ישראל (IL)
20/05/2004	בקשת PCT	162102	ישראל (IL)
22/09/2009	פרסום לאומי	162102	ישראל (IL)

מגיש

שם:: NANOMETRICS- ISRAEL LTD.
כתובת:: P.O.BOX 690 BUILDING 2, ZONE 7 INDUSTRY PARK YOKNEAM 20692 , IL
מדינה:: ישראל

מגיש

שם:: TEVET PROCESS CONTROL TECHNOLOGIES LTD.
כתובת:: P.O.BOX 690 BUILDING 2, ZONE 7 INDUSTRY PARK 20692 YOKNEAM , IL
מדינה:: ישראל

מגיש/ממציא

שם:: YARON ISH-SHALOM
כתובת:: IL
מדינה:: ישראל

מגיש/ממציא

שם:: OFER DU-NOUR
כתובת:: IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: ג'י.אי.ארליך (1995) בע" מ
כתובת:: מגדל איילון, קומה 15 ,רחוב מנחם בגין 11, רמת גן 52521
מדינה:: ישראל
טלפון:: 09-9570590
פקס:: 09-9570595
דוא"ל:: israel@ipatent.co.il

סוכן

שם:: ג'י.אי.ארליך (1995) בע" מ
כתובת:: מגדל איילון, קומה 15 ,רחוב מנחם בגין 11, רמת גן 52521
מדינה:: ישראל
טלפון:: 09-9570590
פקס:: 09-9570595
דוא"ל:: israel@ipatent.co.il

מסמכים

פטנטים דומים