שיטה ומתקן לגלות פגמים בפרוסות - פטנט 173980 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 173980
שם האמצאה:: שיטה ומתקן לגלות פגמים בפרוסות
שם באנגלית:: METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECTS IN WAFERS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
28/02/2005	דין קדימה	11/069712	ארה"ב (US)
27/02/2006	בקשה לאומית	173980	ישראל (IL)
05/07/2006	פרסום לאומי	173980	ישראל (IL)

מגיש

שם:: NEGEVTECH LTD.

פטנטים דומים