כללי
מספר פטנט:
243236
שם האמצאה:
בדיקת נתח באמצעות אזורי טיפול צורה–חופשית
שם באנגלית:
WAFER INSPECTION USING FREE-FORM CARE AREAS
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2014/205385 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 61/837936 ארה"ב (US)
דין קדימה 61/913380 ארה"ב (US)
דין קדימה 14/168011 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2014/043473 ארה"ב (US)
בקשת PCT 243236 ישראל (IL)
פרסום לאומי 243236 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • H01L: חשמל > אלמנטים חשמליים בסיסיים