מערכת קונפוקלית לבדיקת וופרים - פטנט 146174 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 146174
שם האמצאה:: מערכת קונפוקלית לבדיקת וופרים
שם באנגלית:: CONFOCAL WAFER-INSPECTION SYSTEM

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
25/10/2001	בקשה לאומית	146174	ישראל (IL)
19/08/2007	פרסום לאומי	146174	ישראל (IL)

מגיש

שם:: CAMTEK LTD.
כתובת:: RAMAT GABRIEL INDUSTRIAL ZONE P.O.BOX 544 MIGDAL HAEMEK 23150 , IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: רכס פטנטים
כתובת:: מגדלי אקרשטיין המנופים, הרצליה פיתוח 46120
מדינה:: ישראל

סוכן

שם:: יעקב פינק משרד עו" ד ונוטריון
כתובת:: מגדל העיר קומה 16 רחוב בן יהודה 34, ירושלים 94230
מדינה:: ישראל
טלפון:: 02-6248701
פקס:: 02-6248710

סוכן

שם:: רכס פטנטים
כתובת:: מגדלי אקרשטיין המנופים, הרצליה פיתוח 46120
מדינה:: ישראל

מסמכים

פטנטים דומים