כללי
מספר פטנט:
189707
שם האמצאה:
מערכת בחינה ושיטה לבחינת מצע חתוך
שם באנגלית:
AN INSPECTION SYSTEM AND A METHOD FOR INSPECTING A DICED WAFER
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2007/026351 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 60/712142 ארה"ב (US)
דין קדימה 60/712143 ארה"ב (US)
דין קדימה 60/712144 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/IL/2006/000996 ישראל (IL)
בקשת PCT 189707 ישראל (IL)
פרסום לאומי 189707 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
CAMTEK LTD.