קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מערכת אופטית ושיטה למדידה במבנים עם תבניות
פטנט 230459
כללי
מספר פטנט:
230459
שם האמצאה:
מערכת אופטית ושיטה למדידה במבנים עם תבניות
שם באנגלית:
OPTICAL SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING IN PATTERNED STRUCTURES
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2013/011508
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
19/07/2011
דין קדימה
61/509127
ארה"ב (US)
18/07/2012
בקשה בינלאומית
PCT/IL/2012/050253
ישראל (IL)
14/01/2014
בקשת PCT
230459
ישראל (IL)
31/03/2014
פרסום לאומי
230459
ישראל (IL)
סיווגים (IPC)
G03F : פיזיקה > צילום; סינמטוגרפיה; טכניקות אנלוגיות באמצעות גלים שאינם אופטיים; אלקטרוגרפיה; הולוגרפיה
מגיש
שם:
NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.
פטנטים דומים
מערכת ושיטה למדידת מבנים תבניתיים
שיטה ומערכת למדידה במבנים מעוצבים
שיטה ומערכת למדידת מבנים בעלי תבנית מורכבת
מדידות אופטיות על מבנים בעלי צורה
מדידות אופטיות על מבנים בעלי צורה