שיטה ומערכת למדידת מבנים בעלי תבנית מורכבת - פטנט 227205 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 227205
שם האמצאה:: שיטה ומערכת למדידת מבנים בעלי תבנית מורכבת
שם באנגלית:: METHOD AND SYSTEM FOR USE IN MEASURING IN COMPLEX PATTERNED STRUCTURES

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2012/093400	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
03/01/2011	דין קדימה	61/429195	ארה"ב (US)
03/01/2012	בקשה בינלאומית	PCT/IL/2012/050003	ישראל (IL)
26/06/2013	בקשת PCT	227205	ישראל (IL)
29/08/2013	פרסום לאומי	227205	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

G01B: פיזיקה > מדידה; בדיקה

מגיש

שם:: NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.

מגיש/ממציא

שם:: BRILL BOAZ

מגיש/ממציא

שם:: SHERMAN BORIS

פטנטים דומים