קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מערכת ושיטה למדידת מבנים תבניתיים
פטנט 130874
כללי
מספר פטנט:
130874
שם האמצאה:
מערכת ושיטה למדידת מבנים תבניתיים
שם באנגלית:
SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING PATTERNED STRUCTURES
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
09/07/1999
בקשה לאומית
130874
ישראל (IL)
01/12/2002
פרסום לאומי
130874
ישראל (IL)
מגיש
שם:
NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.
כתובת:
P.O.B. 266, WEIZMANN SCIENTIFIC PARK, REHOVOT 76100 , IL
מדינה:
ישראל
מסירת הודעות
שם:
נובה מכשירי מדידה בע" מ
כתובת:
וייצמן פארק למדע, רחובות 76100
מדינה:
ישראל
סוכן
שם:
נובה מכשירי מדידה בע" מ
כתובת:
וייצמן פארק למדע, רחובות 76100
מדינה:
ישראל
סוכן
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
שיטה ומערכת למדידה במבנים מעוצבים
מערכת אופטית ושיטה למדידה במבנים עם תבניות
שיטה ומערכת למדידת מבנים בעלי תבנית מורכבת
שיטה ומתקן למדידת מבנים בעלי דוגמא
שיטה ומערכת למדידות במבנים מעוצבים