שיטה ומערכת למדידה במבנים מעוצבים - פטנט 140179 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 140179
שם האמצאה:: שיטה ומערכת למדידה במבנים מעוצבים
שם באנגלית:: METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING IN PATTERNED STRUCTURES

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
07/12/2000	בקשה לאומית	140179	ישראל (IL)
27/09/2004	פרסום לאומי	140179	ישראל (IL)

מגיש

שם:: NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.
כתובת:: P.O.B. 266, WEIZMANN SCIENTIFIC PARK, REHOVOT 76100 , IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: נובה מכשירי מדידה בע" מ
כתובת:: וייצמן פארק למדע, רחובות 76100
מדינה:: ישראל

מסמכים

פטנטים דומים