קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מדידות אופטיות על מבנים בעלי צורה
פטנט 132639
כללי
מספר פטנט:
132639
שם האמצאה:
מדידות אופטיות על מבנים בעלי צורה
שם באנגלית:
OPTICAL MEASUREMENTS OF PATTERNED STRUCTURES
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
28/10/1999
בקשה לאומית
132639
ישראל (IL)
23/11/2003
פרסום לאומי
132639
ישראל (IL)
מגיש
שם:
NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.
כתובת:
P.O.B. 266, WEIZMANN SCIENTIFIC PARK, REHOVOT 76100 , IL
מדינה:
ישראל
מסירת הודעות
שם:
נובה מכשירי מדידה בע" מ
כתובת:
וייצמן פארק למדע, רחובות 76100
מדינה:
ישראל
סוכן
שם:
נובה מכשירי מדידה בע" מ
כתובת:
וייצמן פארק למדע, רחובות 76100
מדינה:
ישראל
סוכן
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
מדידות אופטיות על מבנים בעלי צורה
מדידות אופטיות על מבנים בעלי צורה
שיטה ומערכת למדידות במבנים מעוצבים
מערכת אופטית ושיטה למדידה במבנים עם תבניות
שיטה ומערכת למדידה אופטית