כללי
מספר פטנט:
202492
שם האמצאה:
שיטה ומערכת לשימוש בבדיקת תכונות של מבנים בעלי צורה
שם באנגלית:
METHOD AND SYSTEM FOR USE IN MONITORING PROPERTIES OF PATTERNED STRUCTURES
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2009/007981 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 60/949034 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/IL/2008/000966 ישראל (IL)
בקשת PCT 202492 ישראל (IL)
פרסום לאומי 202492 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.
כתובת:
WEIZMANN SCIENTIFIC PARK, P.O.B 266, REHOVOT 76100 , IL
מדינה:
ישראל
  מסירת הודעות
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
  סוכן
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il