כללי
מספר פטנט:
223965
שם האמצאה:
תהליך והתקן לקביעת שגיאה בשכבה
שם באנגלית:
METHOD AND APPARATUS FOR DETERMING AN OVERLAY ERROR
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2012/010458 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 61/365,538 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/EP/2011/061822 משרד הפטנטים האירופי (EP)
בקשת PCT 223965 ישראל (IL)
פרסום לאומי 223965 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G03F: פיזיקה > צילום; סינמטוגרפיה; טכניקות אנלוגיות באמצעות גלים שאינם אופטיים; אלקטרוגרפיה; הולוגרפיה