כללי
מספר פטנט:
221519
שם האמצאה:
שיטה ומערכת עבור קביעה של שגיאת כיסוי
שם באנגלית:
METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING AN OVERLAY ERROR
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
דין קדימה 61/528941 ארה"ב (US)
בקשה לאומית 221519 ישראל (IL)
פרסום לאומי 221519 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G01N: פיזיקה > מדידה; בדיקה