קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטה ומערכת למדידת דיוק חפיפה
פטנט 148566
כללי
מספר פטנט:
148566
שם האמצאה:
שיטה ומערכת למדידת דיוק חפיפה
שם באנגלית:
METHOD AND SYSTEM FOR OVERLAY MEASUREMENT
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
07/03/2002
בקשה לאומית
148566
ישראל (IL)
17/06/2007
פרסום לאומי
148566
ישראל (IL)
מגיש
שם:
NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.
כתובת:
P.O.B. 266, WEIZMANN SCIENTIFIC PARK, REHOVOT 76100 , IL
מדינה:
ישראל
מסירת הודעות
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
סוכן
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
מתקן למדידת כיסוי, מתקן ליטוגרפיה, ושיטה לייצור מכשיר תוך שימוש במתקן למדידת כיסוי
חיפויים עליונים עם תכולת יטריום
התקן להנחה על מקלדת
שיטה ומערכת עבור קביעה של שגיאת כיסוי
קמא" ד )קו מנוי אסימטרי דיגיטלי( כם התקנה עילית של מערכת טלפון ע" י ת" ר