מכשיר ושיטה לבדיקת פרוסות נעות מוליכות למחצה - פטנט 222480 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 222480
שם האמצאה:: מכשיר ושיטה לבדיקת פרוסות נעות מוליכות למחצה
שם באנגלית:: DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING MOVING SEMICONDUCTOR WAFERS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2011/138524	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
06/05/2010	דין קדימה	1001958	צרפת (FR)
04/05/2011	בקשה בינלאומית	PCT/FR/2011/000273	צרפת (FR)
16/10/2012	בקשת PCT	222480	ישראל (IL)
29/12/2016	פרסום לאומי	222480	ישראל (IL)

מגיש

שם:: ALTATECH SEMICONDUCTOR
כתובת:: 611, RUE ARISTIDE BERGES F-38330 MONTBONNOT-SAINT-MARTIN , FR
מדינה:: צרפת

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים