מכשיר ושיטה לבדיקת פרוסות מוליכות למחצה - פטנט 214829 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 214829
שם האמצאה:: מכשיר ושיטה לבדיקת פרוסות מוליכות למחצה
שם באנגלית:: DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFERS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2010/097523	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
25/02/2009	דין קדימה	0900862	צרפת (FR)
23/02/2010	בקשה בינלאומית	PCT/FR/2010/000165	צרפת (FR)
25/08/2011	בקשת PCT	214829	ישראל (IL)
30/11/2011	פרסום לאומי	214829	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

G01B: פיזיקה > מדידה; בדיקה

מגיש

שם:: ALTATECH SEMICONDUCTOR,

פטנטים דומים