כללי
מספר פטנט:
218180
שם האמצאה:
מערכות ושיטות מטורולוגיות
שם באנגלית:
METROLOGY SYSTEMS AND METHODS
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2011/028807 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 61/239699 ארה"ב (US)
דין קדימה 12/872988 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2010/047539 ארה"ב (US)
בקשת PCT 218180 ישראל (IL)
פרסום לאומי 218180 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • H01L: חשמל > אלמנטים חשמליים בסיסיים