כללי
מספר פטנט:
230651
שם האמצאה:
מערכת ניתור ושיטה לווידוא מדידות במבנים עם תבניות
שם באנגלית:
MONITORING SYSTEM AND METHOD FOR VERIFYING MEASUREMENTS IN PATTERNED STRUCTURES
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2013/018093 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 61/513693 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/IL/2012/050283 ישראל (IL)
בקשת PCT 230651 ישראל (IL)
פרסום לאומי 230651 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G03F: פיזיקה > צילום; סינמטוגרפיה; טכניקות אנלוגיות באמצעות גלים שאינם אופטיים; אלקטרוגרפיה; הולוגרפיה