כללי
מספר פטנט:
213946
שם האמצאה:
מערכת ושיטה לבחינת פרוסות
שם באנגלית:
SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTING A WAFER
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2010/082902 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 200900229-6 סינגפור (SG)
דין קדימה 200901110-7 סינגפור (SG)
בקשה בינלאומית PCT/SG/2010/000006 סינגפור (SG)
בקשת PCT 213946 ישראל (IL)
פרסום לאומי 213946 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
SEMICONDUCTOR TECHNOLOGIES & INSTRUMENTS PTE LTD (SG)
כתובת:
BLOCK 25, KALLANG AVENUE #04-01 KALLANG BASIN INDUSTRIAL ESTATE 339416 , SG
מדינה:
סינגפור
  מגיש/ממציא
שם:
AJHARALI AMANULLAH
  מגיש/ממציא
שם:
ALBERT ARCHWAMETI
  מגיש/ממציא
שם:
HONGTU GUO
  מסירת הודעות
שם:
ד" ר מרק פרידמן בע" מ
כתובת:
מגדל משה אביב, ק.54 , רחוב ז'בוטינסקי, רמת- גן 52520
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-6114100
דוא"ל:
patents@friedpat.com
  סוכן
שם:
ד" ר מרק פרידמן בע" מ
כתובת:
מגדל משה אביב, ק.54 , רחוב ז'בוטינסקי, רמת- גן 52520
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-6114100
דוא"ל:
patents@friedpat.com
  סוכן
שם:
שילון צוקרשטיין ושות'
כתובת:
מרכז עזריאלי 1, המגדל העגול, קומה 19, תל אביב 67021
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7585777
פקס:
03-7581999
דוא"ל:
info@israelip.co.il