מכשיר לבדיקת מגרעות כדוריות על וייפר - פטנט 181515 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 181515
שם האמצאה:: מכשיר לבדיקת מגרעות כדוריות על וייפר
שם באנגלית:: APPARATUS FOR INSPECTING A BALL-BUMPED WAFER

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
24/02/2006	דין קדימה	2006-048139	יפן (JP)
22/02/2007	בקשה לאומית	181515	ישראל (IL)
19/08/2007	פרסום לאומי	181515	ישראל (IL)

מגיש

שם:: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION

פטנטים דומים