קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מיקרוסקופ תירה אלקטרוני להחזיה של דגימות רטובות
פטנט 85070
כללי
מספר פטנט:
85070
שם האמצאה:
מיקרוסקופ תירה אלקטרוני להחזיה של דגימות רטובות
שם באנגלית:
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE FOR VISUALIZATION OF WET SAMPLES
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
11/01/1988
בקשה לאומית
85070
ישראל (IL)
16/09/1991
פרסום לאומי
85070
ישראל (IL)
מגיש
שם:
ELECTRO-SCAN CORPORATION
מסירת הודעות
שם:
א.י. מלפורד
כתובת:
רחוב שלומציון המלכה 11, ירושלים 91004
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-6231122
סוכן
שם:
א.י. מלפורד
כתובת:
רחוב שלומציון המלכה 11, ירושלים 91004
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-6231122
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
מעמד המסה למיקרוסקופ אלקטרוני סורק סביבתי (ESEM)
שיטה למדידת דגימת ממד ומיקרוסקופ סריקה אלקטרוני
שיטה למדידת ממדי דגימה ומיקרוסקופ אלקטרוני סורק
אלומת קרן אלקטרונים בצורת T לסריקה כללית במיקרוסקופ אלקטרוני
מעטפת לדגימה עבור סקירה במיקרוסקופ אלקטרוני ושיטות לייצורה