שיטה למדידת ממדי דגימה ומיקרוסקופ אלקטרוני סורק - פטנט 163568 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 163568
שם האמצאה:: שיטה למדידת ממדי דגימה ומיקרוסקופ אלקטרוני סורק
שם באנגלית:: SAMPLE DIMENSION MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2003/098149	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
20/05/2002	דין קדימה	2002-143960	יפן (JP)
19/05/2003	בקשה בינלאומית	PCT/JP/2003/006203	יפן (JP)
16/08/2004	בקשת PCT	163568	ישראל (IL)
29/12/2008	פרסום לאומי	163568	ישראל (IL)

מגיש

שם:: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
כתובת:: 24-14,NISHISHINBASHI 1-CHOME MINATO-KU, TOKYO , JP
מדינה:: יפן

מסירת הודעות

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 0732262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

סוכן

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 0732262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

מסמכים

פטנטים דומים