כללי
מספר פטנט:
170358
שם האמצאה:
מעטפת לדגימה עבור סקירה במיקרוסקופ אלקטרוני ושיטות לייצורה
שם באנגלית:
A SAMPLE ENCLOSURE FOR A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHODS OF USE THEREOF
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2004/075209 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 60/448808 ארה"ב (US)
דין קדימה PCT/IL03/00545 ישראל (IL)
דין קדימה pct/il03/457 ישראל (IL)
בקשה בינלאומית PCT/IL/2003/001054 ישראל (IL)
בקשת PCT 170358 ישראל (IL)
פרסום לאומי 170358 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
QUANTOMIX LTD.