שיטה למדידת דגימת ממד ומיקרוסקופ סריקה אלקטרוני - פטנט 156419 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 156419
שם האמצאה:: שיטה למדידת דגימת ממד ומיקרוסקופ סריקה אלקטרוני
שם באנגלית:: SAMPLE DIMENSION MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2003/021186	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
29/08/2001	דין קדימה	2001-259126	יפן (JP)
27/03/2002	בקשה בינלאומית	PCT/JP/2002/002983	יפן (JP)
12/06/2003	בקשת PCT	156419	ישראל (IL)
04/05/2009	פרסום לאומי	156419	ישראל (IL)

מגיש

שם:: HITACHI, LTD.
כתובת:: 6, KANDA SURUGADAI 4-CHOME, CHIYODA-KU, TOKYO 101-8010 , JP
מדינה:: יפן

מסירת הודעות

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 0732262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

סוכן

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 0732262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

מסמכים

פטנטים דומים