כללי
מספר פטנט:
243474
שם האמצאה:
מטרולוגיה משלבת קרני-X ואופטיקה
שם באנגלית:
COMBINED X-RAY AND OPTICAL METROLOGY
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2015/006234 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 61/843,868 ארה"ב (US)
דין קדימה 61/867,363 ארה"ב (US)
דין קדימה 14/074,689 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2014/045607 ארה"ב (US)
בקשת PCT 243474 ישראל (IL)
פרסום לאומי 243474 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • H01L: חשמל > אלמנטים חשמליים בסיסיים