ספקטרודיפרקטומטר לקרני X - פטנט 41592 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 41592
שם האמצאה:: ספקטרודיפרקטומטר לקרני X
שם באנגלית:: X-RAY SPECTRODIFFRACTOMETER

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
20/02/1973	בקשה לאומית	41592	ישראל (IL)
29/02/1976	פרסום לאומי	41592	ישראל (IL)

מגיש

שם:: TECHNION RESEARCH AND DEVELOPMENT FOUNDATION LTD.
כתובת:: SENATE HOUSE TECHNION CITY HAIFA 32000 , IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים