כללי
מספר פטנט:
156095
שם האמצאה:
מדידות אופטיות על מבנים בעלי צורה
שם באנגלית:
OPTICAL MEASUREMENTS OF PATTERNED STRUCTURES
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
בקשה לאומית 156095 ישראל (IL)
פרסום לאומי 156095 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.