קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטה ליצור מבני סיליקון על מבודד מתוחים ומבני סיליקון על מבודד מתוחים
פטנט 178387
כללי
מספר פטנט:
178387
שם האמצאה:
שיטה ליצור מבני סיליקון על מבודד מתוחים ומבני סיליקון על מבודד מתוחים
שם באנגלית:
METHOD FOR FABRICATING STRAINED SILICON-ON-INSULATOR STRUCTURES AND STRAINED SILICON-ON-INSULATOR STRUCTURES FORMED THEREBY
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2005/096372
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
31/03/2004
דין קדימה
10/814482
ארה"ב (US)
22/03/2005
בקשה בינלאומית
PCT/EP/2005/051319
משרד הפטנטים האירופי (EP)
28/09/2006
בקשת PCT
178387
ישראל (IL)
30/12/2010
פרסום לאומי
178387
ישראל (IL)
מגיש
שם:
IBM CORPORATION
כתובת:
NEW ORCHARD ROAD, ARMONK, N.Y. 10504 , US
מדינה:
ארה"ב
מסירת הודעות
שם:
מעבדות יבמ מחלקת קנין רוחני
כתובת:
אוניברסיטת חיפה הר הכרמל, חיפה 31905
מדינה:
ישראל
סוכן
שם:
מעבדות יבמ מחלקת קנין רוחני
כתובת:
אוניברסיטת חיפה הר הכרמל, חיפה 31905
מדינה:
ישראל
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
סיליקון מתוח על מבודד ושיטה לייצורו
שכבות של סיליקון–גרמניום (SiGe) רפוי על סליקון או סיליקון על מבודד ע" י השתלת יונים והקשחה תרמית
מבנים מקרום דק של סיליקון מבודד עבור אפנון אופטי ושיטות ליצורם
שיטה לייצור סרט בידוד
שיטת יצור של מבדד על SiGe שהינו באיכות גבוהה ורפה לישומים CMOS עם Si הדוק