קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטה אינטרפרומטרית לקביעת סיום תהליך חריטה פלזמית
פטנט 148873
כללי
מספר פטנט:
148873
שם האמצאה:
שיטה אינטרפרומטרית לקביעת סיום תהליך חריטה פלזמית
שם באנגלית:
INTERFEROMETRIC METHOD FOR ENDPOINTING PLASMA ETCH PROCESSES
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2001/024255
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
30/09/1999
דין קדימה
409840
ארה"ב (US)
27/09/2000
בקשה בינלאומית
PCT/US/2000/026600
ארה"ב (US)
25/03/2002
בקשת PCT
148873
ישראל (IL)
31/08/2005
פרסום לאומי
148873
ישראל (IL)
מגיש
שם:
LAM RESEARCH CORPORATION
כתובת:
4650 CUSHING PARKWAY FREMONT, CA 94538-6470 , US
מדינה:
ארה"ב
מגיש/ממציא
שם:
ARTHUR M. HOWALD
מסירת הודעות
שם:
ג'יי אמ בי דייויס בן-דוד
כתובת:
מרכז בק למדע, הרטום 8, הר חוצבים, ירושלים 9777401
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-5714777
פקס:
02-5714455
דוא"ל:
ipo@jmb.co.il
סוכן
שם:
ג'יי אמ בי דייויס בן-דוד
כתובת:
מרכז בק למדע, הרטום 8, הר חוצבים, ירושלים 9777401
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-5714777
פקס:
02-5714455
דוא"ל:
ipo@jmb.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
שיטה והתקן למדידת אבוך
חריטה בפלסמה עם חומצה טריפלואורואצטית או תולדותיה
שיטה לחרוט תוך פלאזמה על חומר דו–שכבתי
מדידה אינטרפרומטרית
שיטה והתקן לייצור פלסטמה