קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מדידה אינטרפרומטרית
פטנט 94429
כללי
מספר פטנט:
94429
שם האמצאה:
מדידה אינטרפרומטרית
שם באנגלית:
INTERFEROMETRIC MEASUREMENT
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
17/05/1990
בקשה לאומית
94429
ישראל (IL)
10/06/1993
פרסום לאומי
94429
ישראל (IL)
מגיש
שם:
ANDREI BRUNFELD
כתובת:
IL
מדינה:
ישראל
מסירת הודעות
שם:
איתן, פרל, לצר וכהן צדק
כתובת:
רחוב שנקר 7, הרצליה 46733
מדינה:
ישראל
טלפון:
09-9726000
פקס:
03-9709001
דוא"ל:
ilpto@pczlaw.com
סוכן
שם:
איתן, פרל, לצר וכהן צדק
כתובת:
רחוב שנקר 7, הרצליה 46733
מדינה:
ישראל
טלפון:
09-9726000
פקס:
03-9709001
דוא"ל:
ilpto@pczlaw.com
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
שיטה והתקן למדידת אבוך
אפיון חשמלי של מודולטורים אינטרפרומטריים
שיטה ומערכת להנעת מאפנן מד איבוך
מדידה אלקטרו אופטית של היסטריסיס במודולטורים אינטר פרומטריים
מד פרופיל לליזר אינטרפרומטרי