התקן ושיטה למדידת עובי של שכבות ובמיוחד של ציפוי פוטרזיסט על פרוסות חצאי מוליכים - פטנט 125964 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 125964
שם האמצאה:: התקן ושיטה למדידת עובי של שכבות ובמיוחד של ציפוי פוטרזיסט על פרוסות חצאי מוליכים
שם באנגלית:: METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THE THICKNESS OF A TRANSPARENT FILM, PARTICULARLY OF A PHOTORESIST FILM ON A SEMICONDUCTOR SUBSTRATE

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
27/08/1998	בקשה לאומית	125964	ישראל (IL)
31/10/2003	פרסום לאומי	125964	ישראל (IL)

מגיש

שם:: TEVET PROCESS CONTROL TECHNOLOGIES LTD.
כתובת:: P.O.BOX 690 BUILDING 2, ZONE 7 INDUSTRY PARK 20692 YOKNEAM , IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: ג'י.אי.ארליך (1995) בע" מ
כתובת:: מגדל איילון, קומה 15 ,רחוב מנחם בגין 11, רמת גן 52521
מדינה:: ישראל
טלפון:: 09-9570590
פקס:: 09-9570595
דוא"ל:: israel@ipatent.co.il

סוכן

שם:: ג'י.אי.ארליך (1995) בע" מ
כתובת:: מגדל איילון, קומה 15 ,רחוב מנחם בגין 11, רמת גן 52521
מדינה:: ישראל
טלפון:: 09-9570590
פקס:: 09-9570595
דוא"ל:: israel@ipatent.co.il

מסמכים

פטנטים דומים