התקן ושיטה לביצוע מטרולוגיה עם שכבהדקה ע" י עיוות שכבה דקה למאדה מחזיר - פטנט 105612 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 105612
שם האמצאה:: התקן ושיטה לביצוע מטרולוגיה עם שכבהדקה ע" י עיוות שכבה דקה למאדה מחזיר
שם באנגלית:: APPARATUS AND METHOD FOR PERFORNINGTHIN FILM LAYER THICKNESS METROLOGYBY DEFORMING A THIN FILM INTO A REFLECTIVE CONDENSER

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
29/05/1992	דין קדימה	891344	ארה"ב (US)
05/05/1993	בקשה לאומית	105612	ישראל (IL)
31/07/1995	פרסום לאומי	105612	ישראל (IL)

מגיש

שם:: IPEC PRECISION, INC.
כתובת:: 3 BERKSHIRE BLVD. BETHEL CONNECTICUT , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

סוכן

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

מסמכים

פטנטים דומים