התקן ושיטה לביצוע מטרולוגיה עם עוביקרום שכבתי דק על שכבת קרום דקה עם עיוותי צורה ושינוי מדרון מקומיים - פטנט 106016 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 106016
שם האמצאה:: התקן ושיטה לביצוע מטרולוגיה עם עוביקרום שכבתי דק על שכבת קרום דקה עם עיוותי צורה ושינוי מדרון מקומיים
שם באנגלית:: APPARATUS AND METHOD FOR PERFORMINGTHIN FILM LAYER THICKNESS METROLOGYON A THIN FILM LAYER HAVING SHAPE DEFORMATIONS AND LOCAL SLOPE VARIVTIONS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
29/06/1992	דין קדימה	906079	ארה"ב (US)
14/06/1993	בקשה לאומית	106016	ישראל (IL)
05/12/1996	פרסום לאומי	106016	ישראל (IL)

מגיש

שם:: IPEC PRECISION, INC.
כתובת:: 3 BERKSHIRE BLVD. BETHEL CONNECTICUT , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים