כללי
מספר פטנט:
111808
שם האמצאה:
שיטה והתקן למדידת עובי שכבה בערימה רבת שכבות דקות
שם באנגלית:
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FILM THICKNESS IN MULTILAYER THIN FILM STACK
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
דין קדימה 179594 ארה"ב (US)
בקשה לאומית 111808 ישראל (IL)
פרסום לאומי 111808 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
HUGHES AIRCRAFT COMPANY