כללי
מספר פטנט:
116788
שם האמצאה:
מדידות אופטיות של מתח בחומרי קרום דקים
שם באנגלית:
OPTICAL MEASUREMENTS OF STRESS IN THIN FILM MATERIALS
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
דין קדימה 377308 ארה"ב (US)
בקשה לאומית 116788 ישראל (IL)
פרסום לאומי 116788 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY
כתובת:
77 MASSACHUSETTS AVENUE CAMBRIDGE, MASSACHUSETTS 02142-1324 , US
מדינה:
ארה"ב
  מגיש/ממציא
שם:
JOHN A. ROGERS
  מגיש/ממציא
שם:
KEITH A. NELSON
  מסירת הודעות
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
  סוכן
שם:
ד" ר מרק פרידמן בע" מ
כתובת:
מגדל משה אביב, ק.54 , רחוב ז'בוטינסקי, רמת- גן 52520
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-6114100
דוא"ל:
patents@friedpat.com
  סוכן
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il