קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מדידות אופטיות של מתח בחומרי קרום דקים
פטנט 116788
כללי
מספר פטנט:
116788
שם האמצאה:
מדידות אופטיות של מתח בחומרי קרום דקים
שם באנגלית:
OPTICAL MEASUREMENTS OF STRESS IN THIN FILM MATERIALS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
24/01/1995
דין קדימה
377308
ארה"ב (US)
16/01/1996
בקשה לאומית
116788
ישראל (IL)
22/02/1998
פרסום לאומי
116788
ישראל (IL)
מגיש
שם:
MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY
כתובת:
77 MASSACHUSETTS AVENUE CAMBRIDGE, MASSACHUSETTS 02142-1324 , US
מדינה:
ארה"ב
מגיש/ממציא
שם:
JOHN A. ROGERS
מגיש/ממציא
שם:
KEITH A. NELSON
מסירת הודעות
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
סוכן
שם:
ד" ר מרק פרידמן בע" מ
כתובת:
מגדל משה אביב, ק.54 , רחוב ז'בוטינסקי, רמת- גן 52520
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-6114100
דוא"ל:
patents@friedpat.com
סוכן
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
שיטה ומערכת למדידה אופטית
מדידות אופטיות על מבנים בעלי צורה
מדידות אופטיות על מבנים בעלי צורה
מדידות אופטיות על מבנים בעלי צורה
מדידות אופטיות של פרטים בעלות תבניות מחזוריות