קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מדידות אופטיות של פרטים בעלות תבניות מחזוריות
פטנט 162199
כללי
מספר פטנט:
162199
שם האמצאה:
מדידות אופטיות של פרטים בעלות תבניות מחזוריות
שם באנגלית:
OPTICAL MEASUREMENTS OF ARTICLES WITH PERIODIC PATTERNS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
27/05/2004
בקשה לאומית
162199
ישראל (IL)
13/04/2008
פרסום לאומי
162199
ישראל (IL)
מגיש
שם:
NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.
כתובת:
P.O.B. 266, WEIZMANN SCIENTIFIC PARK, REHOVOT 76100 , IL
מדינה:
ישראל
מסירת הודעות
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
סוכן
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
שיטה ומערכת למדידה אופטית
מדידות אופטיות על מבנים בעלי צורה
מדידות אופטיות על מבנים בעלי צורה
מדידות אופטיות על מבנים בעלי צורה
ניהול רשת תקשורת באמצעות מדידות נקודתיות של סימנים