מדידת עובי של פילם במבנים הכוללים שטח מפזר - פטנט 111217 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 111217
שם האמצאה:: מדידת עובי של פילם במבנים הכוללים שטח מפזר
שם באנגלית:: FILM THICKNESS MEASUREMENT OF STRUCTURES CONTAINING A SCATTERING SURFACE

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
12/10/1993	דין קדימה	134728	ארה"ב (US)
10/10/1994	בקשה לאומית	111217	ישראל (IL)
14/11/1996	פרסום לאומי	111217	ישראל (IL)

מגיש

שם:: HUGHES AIRCRAFT COMPANY
כתובת:: 7200 HUGHES TERRACE P.O.BOX 80028 LOS ANGELES, CALIFORNIA , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים